Le plus grand système de tomodensitométrie M2 d'Europe est en construction

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Optotom et Nikon Metrology ont remporté l'appel d'offres pour la fourniture d'un système de tomodensitométrie à rayons X à grande enveloppe à l'Université de Technologie de Kielce, en Pologne. Le système Nikon M2 est un système d'inspection modulaire de haute précision doté d'un manipulateur 8 axes breveté, ultra-précis et stable, construit sur une base en granit de qualité métrologique.

Selon l'application, l'utilisateur peut choisir entre trois sources différentes : la source microfocus 450 kV exclusive de Nikon avec cible rotative pour scanner des échantillons volumineux et denses avec une résolution micrométrique ; une source minifocus 450 kV pour un balayage à grande vitesse ; et une source microfocus 225 kV avec cible rotative pour les échantillons plus petits. Le système sera équipé d'un détecteur à écran plat et du détecteur CLDA (Curved Linear Diode Array) propriétaire de Nikon, qui optimise la collecte des rayons X sans capturer les rayons X diffusés indésirables, pour une image d'une netteté et d'un contraste exceptionnels.

Le M2 est idéal pour l'inspection de pièces de toutes tailles, des petits échantillons de faible densité aux matériaux volumineux de haute densité. L'installation du système s'effectuera dans un bunker spécialement conçu à cet effet. Les parois de 1,2 m sont déjà préparées pour de futures mises à niveau vers des gammes d'énergie plus élevées. Ce système toutes options sera l'un des plus grands systèmes M2 au monde, offrant à l'Université de Kielce une flexibilité extrême pour prendre en charge toutes les applications possibles, tant pour la recherche que pour l'industrie locale.

 

Paramètres de base du système :

  • Source de rayonnement minifocus de 450 kV
  • Source de rayonnement microfocalisée de 450 kV, type « cible rotative »
  • Source de rayonnement de 225 kV de type « cible tournante »
  • Source de rayonnement « cible multimétallique » de 225 kV
  • Détecteur linéaire Nikon CLDA
  • détecteur de panneau avec une résolution de 16 millions de pixels
  • la possibilité de tester des composants jusqu'à 100 kg

Date de publication : 25 décembre 2021